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検索キーワード:(標準分類: 433.58)
該当件数:2件
X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析 / 宇田川康夫編
東京 : 学会出版センター , 1993.2. - (日本分光学会測定法シリーズ ; 26)
図書
エネルギー分散型X線分析 : 半導体検出器の使い方 / 合志陽一, 佐藤公隆編
東京 : 学会出版センター , 1989.6. - (日本分光学会測定法シリーズ ; 18)