Applied logistic regression / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow
(Wiley series in probability and mathematical statistics ; . Applied probability and statistics)
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | New York : Wiley , c1989 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xiii, 307 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 指定図書 | 予約 |
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積層3F専門図書 |
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WA 950-ho-1989 | B0843923 |
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0471615536 | 1989 |
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一般注記 | Bibliography: p. 291-300 Includes index "A Wiley-Interscience publication." |
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著者標目 | *Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley |
件 名 | LCSH:Regression analysis |
分 類 | LCC:QA278.2 DC20:519.5/36 NDC8:417 |
書誌ID | 2000142873 |
ISBN | 0471615536 |
NCID | BA07517813 |
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